大家好，
我整理了一個使用自定義映射來突出顯示半導體平面圖和晶圓圖中的空間缺陷的示例。
該技術之前曾在 Discovery 2015 上提出過：
https://community.jmp.com/t5/Discovery-Summit-2015/System-on-Chip-SOC-Yield-Visualization-Using-Custom-Heat-Maps-in/ta-p/22797
這可以用作展示 JMP 以視覺和交互方式識別數據中空間特徵的能力的方法。
安裝注意事項：
在打開“IC_Floorplan.jmp”之前，請在本地安裝 JMP 的“Maps”文件夾中安裝以下文件（例如：C:\Program Files\SAS\JMPPRO\13\Maps）。
“IC_Layout-Name.jmp”
“IC_Layout-XY.jmp”
Custom Floorplan Heat Map自定義平面圖熱圖
Custom Floorplan w/ Wafer Map帶有晶圓圖的自定義平面圖
