任何人都知道如何計算控製圖限制的具體細節，特別是在進行MSA時的EMP平均控製圖表？對我來說不是很明顯，我在幫助中找不到它。 顧客在問。
謝謝！
EMR中的平均值和範圍圖表與控製圖生成器中的Xbar＆R相同（使用的數據，Wafer，來自JMP示例數據庫）：
控制限制的統計細節是 https://www.jmp.com/support/help/14-1/control-limits-for-xbar-and-r-charts.shtml#1148994
一世認為 Mia介紹了STIPS質量模塊中EMP的一些細節。 您可以在課程筆記中查看。 她也可能會提供有關主要來源的一些信息。一世認為 EMP方法來自Wheeler ...但不是百分之百確定。
中號
編輯：這本書正在評估Wheeler的測量過程（EMP III） - 如果你想在兔子洞那邊走得那麼遠。 應該出現在你的標準套件中出現的書籍（綠皮書大約一英寸厚）。 有幾個流程圖和細節。 STIPS摘要可能更容易訪問。
