<meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=UTF-8" />我花了很多時間在我們製造的新組件的開發階段（我們是一個工作車間）。 我一周多次在首次製造零件後提供初始能力數據。 我認識到測量和過程都會影響能力評分，但通常一部分符合功能要求但由於公差或缺乏更好的測量系統而顯示出較差的能力。 出於這個原因，我傾向於總是重新計算（並重新計算......）新的和備用的規格限制，因為這是在現有的過程和測量系統下確保良好的能力的最便宜，最快的解決方案。 當然，並不總是一種新的寬容方式，但有時它是一個很好的解決方案。 我想提出或詢問JMP中的能力分析功能是否包含一項可以輕鬆評估不同規格限值的規定。 例如，在我的工作中，我要問，1）保持現有規格目標的最小公差*寬度*是多少，產生1.3 Cpk（Ppk）或更高。 2）如果規格，產生1.3 Cpk（Ppk）或更高的最小公差寬度是多少。目標移動到或接近過程均值。 在這兩種情況下，我必須記住合理規範應包括的小數位數（即英寸為1,2,3或4個plc）。
對於這種需要，並且因為我在Word文檔中呈現我的數據，我有一個函數在Visual Basic中執行上述操作。 但是，我的代碼仍然很笨拙，因為我最終不得不調整兩個輸出以提供適當數量的小數位，並且我確信JMP的編程人員可以比我更好地完成這項任務。我的vb代碼。
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