Título: Film Coating Defect Data
Autor (es): Mike Anderson y Peter Bartell
Descripción: Un conjunto de datos para usar con la opción Agrupación jerárquica con medidas espaciales. El conjunto de datos es sintético y puede ser utilizado y distribuido libremente. Los datos se aproximan a una serie de sustratos largos que pasan a través de una cascada de un recubrimiento líquido. Luego, los sustratos se escanean en busca de defectos en el recubrimiento a través de un escáner óptico en modo de transmisión. Cada sustrato (indicado por la columna de imagen en los datos) es de 1397 mm x 1524000 mm. El escáner óptico almacena los datos de la imagen de manera tal que cada fila de datos cuenta con 1219 mm por 11,6 mm, lo que da como resultado una imagen de 1250px x 120px. Cada película tiene ruido blanco añadido para complicar aún más el análisis. El objetivo es localizar los defectos lineales en el recubrimiento de la película utilizando la Plataforma de agrupación jerárquica y la opción de medidas espaciales. Se incluyen scripts para la visualización del problema y el análisis finalizado.
Archivos:
- Narrative.doc: una descripción detallada del proceso e información relevante de antecedentes.
- Film_small.jmp: el archivo de datos.
- Film.small.tiff: una pila de imágenes de la salida del escáner óptico para las diferentes ejecuciones
