D66薄膜塗層缺陷數據（Anderson＆Bartell）標題：薄膜塗層缺陷數據
作者：Mike Anderson和Peter Bartell
描述：用於“帶空間度量的層次聚類”選項的數據集。 數據集是合成的，可以自由使用和分發。 該數據近似於一系列通過級聯液體塗層的長基板。 然後在透射模式下通過光學掃描儀掃描基板的塗層中的缺陷。 每個基板（由數據中的圖像列表示）是1397mm×1524000mm。 光學掃描儀將圖像數據向下壓縮，使得每行數據佔1219mm×11.6mm，從而產生1250px×120px的圖像。 每個膠片都添加了白噪聲，使分析更加複雜。 目標是使用分層聚類平台和空間測量選項在薄膜塗層中找到線性缺陷。 包括用於可視化問題和完成分析的腳本。
文件：
- Narrative.doc：過程和相關背景信息的詳細描述。
- Film_small.jmp：數據文件。
- Film.small.tiff：用於不同運行的光學掃描儀輸出的圖像堆棧
數據表掌握JMP
