<meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=UTF-8" />C30 JMP DOE Covering Array (Koprowski / Perkinson)
Autores: Stan Koprowski y Jeff Perkinson
Fondo: La comunidad de usuarios de JMP fue atacada recientemente por spam. La comunidad se actualizó a una versión más nueva del software. La actualización hizo que se mostraran títulos de menú erróneos.
DOE Design Covering Array
Las matrices de cobertura se utilizan para probar sistemas deterministas donde se producen fallas como resultado de interacciones entre componentes o subsistemas.
El objetivo del diseño es para revelar si alguna interacción induce una falla en el sistema.
· Identificar fallas debidas a la interacción con sistemas deterministas.
· Crear un modelo candidato para permitir más pruebas de componentes.
· Simplifique y agilice el proceso para la identificación de fallas de componentes.
Porque bien: Un buen ejemplo del mundo real para ilustrar la utilidad de cubrir arreglos para ayudar a identificar fallas de software.
Guiones:
Diálogo de DOE
Análisis de la matriz de cobertura
Archivos adjuntos (7):
- DOE Covering Array.jmp
- DOE Covering Array Journal
- Captura de pantalla resaltando el problema.
- Captura de pantalla de los menús corregidos una vez aplicada la corrección.
- Captura de pantalla de la estructura de directorio real (tema)
- Captura de pantalla de DOE Covering Array con factores candidatos
- Captura de pantalla del resumen del resumen / análisis de fallas
