<meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=UTF-8" />C30 JMP DOE 커버링 어레이 (Koprowski / Perkinson)
저자 : Stan Koprowski와 Jeff Perkinson
배경: JMP 사용자 커뮤니티는 최근 스팸 공격을 받았습니다. 커뮤니티가 최신 버전의 소프트웨어로 업데이트되었습니다. 업그레이드로 인해 잘못된 메뉴 제목이 표시되었습니다.
DOE 디자인 커버링 어레이
커버링 배열은 구성 요소 또는 하위 시스템 간의 상호 작용으로 인해 오류가 발생하는 결정 성있는 시스템을 테스트하는 데 사용됩니다.
디자인 목표는 어떤 상호 작용이 시스템에 고장을 유발 하는지를 밝혀내는 것입니다.
· 결정 성있는 시스템과의 상호 작용으로 인한 실패를 식별합니다.
· 추가 구성 요소 테스트를 허용하도록 후보 모델을 작성하십시오.
· 구성 요소 오류를 식별하는 프로세스를 간소화하고 신속하게 처리하십시오.
왜 좋은가? 소프트웨어 오류를 식별하는 데 도움이되는 배열을 다루는 유용성을 설명하는 실제 예입니다.
스크립트 :
암컷 대화 상자
커버링 어레이 분석
첨부 파일 (7) :
- DOE Covering Array.jmp
- DOE Covering Array Journal
- 문제를 강조하는 화면 캡처
- 수정이 적용된 후 수정 된 메뉴의 화면 캡처
- 실제 디렉토리 구조 (테마)의 화면 캡처
- 후보 요소가 포함 된 DOE 커버링 어레이의 화면 캡처
- 요약 개요 / 실패 분석의 화면 캡처
