<meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=UTF-8" />C30 JMP DOE Covering Array (Koprowski / Perkinson)
Autoren: Stan Koprowski und Jeff Perkinson
Hintergrund: Die JMP-Benutzergemeinschaft wurde kürzlich von Spam angegriffen. Die Community wurde auf eine neuere Version der Software aktualisiert. Durch das Upgrade wurden fehlerhafte Menütitel angezeigt.
DOE Design Covering Array
Covering Arrays werden zum Testen deterministischer Systeme verwendet, bei denen Ausfälle als Folge von Interaktionen zwischen Komponenten oder Subsystemen auftreten.
Das Designziel ist um herauszufinden, ob eine Interaktion einen Fehler im System auslöst.
· Identifizieren Sie Fehler aufgrund der Interaktion mit deterministischen Systemen.
· Erstellen Sie ein Kandidatenmodell, um weitere Komponententests zu ermöglichen.
· Vereinfachen und beschleunigen Sie den Prozess zur Erkennung von Komponentenfehlern.
Warum gut: Ein gutes Beispiel aus der Praxis, um die Nützlichkeit der Abdeckung von Arrays zur Identifizierung von Softwarefehlern zu veranschaulichen.
Skripte:
DOE-Dialog
Covering-Array-Analyse
Angehängte Dateien (7):
- DOE für Array.jmp
- DOE Covering Array Journal
- Bildschirmaufnahme, die das Problem hervorhebt
- Bildschirmaufnahme der korrigierten Menüs, nachdem der Fix angewendet wurde
- Screenshot der aktuellen Verzeichnisstruktur (Theme)
- Screen Capture des DOE Covering Arrays mit Kandidatenfaktoren
- Screenshot der Übersichts- / Fehleranalyse
