<meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=UTF-8" />C30 JMP DOE覆蓋陣列（Koprowski / Perkinson）
作者： Stan Koprowski和Jeff Perkinson
背景： JMP用戶社區最近遭到垃圾郵件的攻擊。 社區已更新為該軟件的更新版本。 升級導致顯示錯誤的菜單標題。
DOE設計覆蓋陣列
覆蓋陣列用於測試確定性系統，其中由於組件或子系統之間的交互而發生故障。
設計目標是揭示是否有任何相互作用導致系統失敗。
· 識別與確定性系統交互導致的故障。
· 創建候選模型以允許進一步的組件測試。
· 簡化並加快識別組件故障的過程。
為什麼好： 這是一個很好的真實示例，用於說明覆蓋數組的有用性，以幫助識別軟件故障。
腳本：
DOE對話框
覆蓋陣列分析
附件（7）：
- DOE Covering Array.jmp
- DOE Covering Array Journal
- 突出顯示問題的屏幕截圖
- 應用修復後更正的菜單的屏幕截圖
- 實際目錄結構的屏幕截圖（主題）
- 具有候選因子的DOE覆蓋陣列的屏幕截圖
- 摘要大綱/失敗分析的屏幕截圖
