クラスタとサブセットを作成する方法JMPユーザー各位
謝罪、質問は誤解を招く可能性があります。
私は製造プロセスを研究しています、そして、アウトプットは範疇、善と悪です。進行中に、不良部分が見つかるまで10回以上連続して欠陥が発生することがあります。 私の目的は、欠陥が何度も繰り返されるような連続した部分を見つけることです。 特定の変数範囲（または変数のグループ）がこの問題の原因となっている場合は、後でこのサブセットを使用して類似性を調べます。 これは私の教授からさまざまな種類の分析についてのアドバイスです。JMPでサブセットを形成するための提案をお願いします。
Clusters / PCAを使用しても、必ずしも連続した欠陥のクラスターが得られるとは限らないと思います。必要なサブセットを取得するために使用できるその他のオプション。
ありがとう
サン
再：どのようにクラスタとサブセットを形成するのですか？時系列順にデータを表示することは重要であるため、「いつ何かが起こるのですか」という回答に役立つようにプロセススクリーニングプラットフォームを使用することを検討することをお勧めします。あなたの問題の一部です。それから、部品の配置（良いか悪いか）とプロセス変数が一致しているかどうかを段階的に変化しているように見える時間内に視覚的に検査することができます。
また、これは学問的な問題のように聞こえるので...通常は演劇の教育的経験の一部である特定の分析方法があります。あなたの教授は何を示唆していますか？
