大家好,
我想從社區獲得一些反饋 - 很可能有人在某個時候解決了類似的問題。
我有一組測量/校正,這些測量/校正在工具數量的設定間隔內或多或少地完成。我們看到,對於一類測量,每次測量的距離都不是很遠,我們希望延長每次測量的壽命,因此測量之間的間隔更長。換句話說,我們想要證明在某種程度上不安全地進行那些測量仍然是安全的。
到目前為止,我們要做的是為數據集設置2 sigma控制限制,然後為每個工具設置,並為每個點計算達到第一個OOC點所需的時間。然後在此之前採取間隔,以便在它們達到OOC之前已經測量了95%的所有點。
這聽起來合理嗎?或者還有一些其他方法來確定這種“壽命”,並在數值上證明延長這種測量的“壽命”是安全的嗎?
任何想法都將受到高度讚賞。
謝謝,
M.
有人想到的是看一下CUSUM方法來解決你的實際問題。從本質上講,您似乎正在嘗試建立一個過程監控和報警系統,以滿足特定質量特性的關鍵性能。JMP 14中的新CUSUM平台可能會有用嗎?您必須建立所謂的檢測限制...而不是控制限制。這是以一些實際考慮為指導的,即假設的過程差異,您願意與目標值的偏差有多大。平台內有一個非常酷的Profiler,您可以使用不同的圖表參數條件和ARL profiler元素。新的CUSUM平台可以在Analyze - > Quality and Process - > CUSUM Control Chart中找到。有關JMP文檔的更多詳細信息,建議您訪問此處:
https://www.jmp.com/support/help/14/cusum-control-charts.shtml#