嗨，
我用一個測試裝置來測量1000個單位（比如電池的電壓），然後用另一個測試設備再次測量這1000個單位。 與第一個測試設備相比，我可以使用哪種JMP分析來推測第二測試設備的性能？
我現在正在做的是（使用excel）計算每個單位的測量delta，然後繪製delta與單位的關係。只是想知道JMP可以提供哪些更專業的分析？
謝謝
賈森
嗨，傑森，
除非您在同一台設備上進行多次測量，否則您不會對測量系統有太多了解。測量系統研究的設計和分析是一個研究得很好的主題，類似於過程系統的實驗設計。
看一些JMP點播網絡研討會： https://www.jmp.com/en_us/events/ondemand/mastering-jmp/evaluating-and-monitoring-your-process-using-msa-and-spc.html ，或參加培訓課程： https://support.sas.com/edu/schedules.html?ctry=us&crs=JMSA （下週將安排一個LiveWeb課程！）。
我希望這有幫助。你問這個問題並尋找更多的分析答案真是太棒了。
--Di
