假設檢驗證明一個R＆R結果是否優於另一個？<meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=UTF-8" />嗨，
我有兩種可能的測量方法來測量響應，我想確定哪種測試方法是更好的測量系統。我已經為每種測試方法進行了Gauge R＆R研究（使用相同的部件和相同的操作員，僅改變使用的方法）。這兩項研究的結果非常相似，所以我想做一個假設檢驗，以了解R＆R％略低的測試方法是否明顯優於其他測試方法。
就我所知，Gauge R＆R / MSA平台沒有提供合適的選擇（我是否進行單獨分析或將測試方法類型包括為二進制分組因子）。我可以在JMP中找到嚴格的方差測試異質性的唯一地方是Fit Y by X平台，但這種情況不適用，因為有多種因素需要考慮（ 操作員，部分，操作員*部分 ，和測試方法類型）。
所以我對如何解決這個問題的想法如下：
- 將我的兩個測試方法響應堆疊到一個列中，並添加一個分類列，指定使用哪種測試方法
- 具有運算符，部分和運算符*部分的擬合模型作為唯一因素（即不包括測試方法類型）
- 將此模型中的殘差保存到新列中
- 通過X使用Fit Y，通過測試方法類型擬合殘差
- 進行方差檢驗的異質性，看兩種檢驗方法是否給出了顯著不同的變異水平
這聽起來像是一種有效的方法嗎？有沒有人對我如何處理此問題有任何其他建議？
非常感謝，
亞歷克斯
Re：假設檢驗證明一個R＆R結果是否優於另一個？我一直在關注這個討論，彼得提出了一些好的觀點。 這個和其他類似討論的難點在於它通常需要“查看數據”並真正理解要回答的問題，以便為分析提供指導。
但是，JMP確實對方差進行了非參數測試。在忠實的y-by-x平台上，當你有一個分類x和一個連續的y時，有一個“均值分析”菜單選項。 在此選項下，您將找到“ANOM for Variances-Levene（ADM）”。 您可以在JMP書籍中查看詳細信息。
這可能不是你需要的，但想指出它的存在。
Re：假設檢驗證明一個R＆R結果是否優於另一個？您是否嘗試過使用Wheeler的EMP方法來分析結果？範圍圖表將為您提供兩種方法的測試 - 重新測試錯誤的部分均值變化源不可知視圖，這聽起來這是您最關注的問題嗎？這不是一個假設檢驗......但如果存在差異，它也應該出現在那裡。我不是一般的假設檢驗的忠實粉絲，因為它們傾向於使世界看起來是二元的...我寧願看一下數據的圖，並通過解釋這些圖來得出我的結論，在實際的背景下需要做出的決定。
Re：假設檢驗證明一個R＆R結果是否優於另一個？是的，兩種測試方法的組合是相同的，但除非至少考慮到3個部分之間的差異，否則這將意味著測試非正常數據的方差同質性 - 事實上它將是三 - 模態。我對方差測試的任何參數同質性處理極端非正態性的能力沒有足夠的信心，這是一種有效的方法，我不認為JMP有任何非參數等價物。
我確實嘗試通過測試方法類型對每個部分分別進行擬合響應以給出3個單獨的測試，但是這給出了結果的混合，導致沒有總體結論。
考慮到測量系統能力中存在其他重要因素 - 我已經在兩種方法之間發現了一個小但顯著的偏差，但在這種情況下，無法知道“真實”值，因此這並沒有真正幫助！
Re：假設檢驗證明一個R＆R結果是否優於另一個？也許我錯過了一些東西......但聽起來你只是在兩種測試方法中復制了相同的實驗處理組合。那麼為什麼不能像在步驟1中描述的那樣創建數據表。上面然後使用Fit Y by X平台內的不等方差檢驗來回答方差問題的同質性？
但是讓我們回顧一下：我要提出的另一件事是你問一個模糊的問題，“哪種測試方法更好？”然後選擇一個且只有一個特徵，方差的同質性，來回答這個問題。評估測量系統有許多方面，“更好”可以由這些中的任何一個單獨評估或作為子集評估。
例如......這兩個系統我可以設想一個場景，其中彼此之間存在均勻的方差......你似乎唯一感興趣的東西......以及彼此或標準的偏見。因此，我不願意說一個系統比另一個系統更好，只關注兩個系統之間的方差同質性。
