大家好！
我希望你有一個好的周末。
我想知道我是否可以對一系列具有X和Y坐標的物體進行點模式分析（K函數，L函數和L交叉函數）？
讓我們假設我有2個樹型的X和Y位置，我想知道這些樹是否：聚集，分散或隨機分佈在不同的半徑。
有人能幫忙嗎 ？
謝謝，
穆罕默德
你好
我們研究了蝕刻過程的生長行為。
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S1876610213014410
我們使用JMP的R集成功能和R包 http://spatstat.org/
可能這種方法可以幫助。
米爾科
