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Confronto tra le prestazioni di defettività tra due processi

Ciao a tutti,

 

Sto pianificando di valutare un nuovo processo che dovrebbe avere prestazioni migliori in termini di defectivity (industria dei semiconduttori). La domanda che ho è lascia dire che il mio fallimento del processo non è ripetibile durante una certa serie di esperimenti. Ad esempio, durante i miei 100 wafer eseguiti, ho osservato che l'errore si verifica durante la ventesima e la cinquantesima esecuzione dei wafer. Una ripetizione su altri 100 wafer eseguono il fallimento del 10 °, 31 ° e 70 ° wafer. In questa situazione, come faccio a progettare il mio esperimento per determinare se il mio nuovo processo migliora effettivamente la difettosità del mio processo di base

 

Spero che qualcuno sia in grado di aiutarmi in questo

 

Rgrds

 

Irfan

Ri: Confronto tra prestazioni di defettività tra due processi

Irfan, il tuo alfa è 0.4138 (test Log-Rank). Poiché 0.4138 è maggiore di 0.05, non siamo in grado di respingere l'ipotesi nulla secondo cui i due gruppi sono uguali. Così formalmente! Ma questo fatto non dovrebbe impedirti di affermare che la tua trama (cumulativa) è più bassa (Se è così), e quindi il processo ha una migliore performance di defectivity . In generale, ottenere una differenza statisticamente significativa è ancora piuttosto difficile. Ma questo è il mio atteggiamento soggettivo (forse, gli esperti qui troveranno possibile fare i loro commenti correttivi ).

Ri: Confronto tra prestazioni di defettività tra due processi

Ciao Med,

 

In grado di condividere con me cosa significa il numero, l'alfa è anch'esso impostato su 0.05? Ciò significa che in questo caso non siamo in grado di respingere l'ipotesi nulla secondo cui i due gruppi sono uguali?

 

Rgrds

 

Irfan

Ri: Confronto tra prestazioni di defettività tra due processi

Queste curve riflettono la probabilità (cumulativa) del fallimento. Così
un processo che ha prestazioni di defectivity migliori ha una curva più bassa.
Inoltre, è necessario considerare il valore p (ma non la feticizzazione). Ma tutto questo vale
alla teoria della statistica.

Ri: Confronto tra prestazioni di defettività tra due processi

Ciao Med,

 

Ecco i dati che ho

 

 

 

Capace di spiegarmi la spiegazione dei numeri mostrati dall'analisi sopra

 

Rgrds

 

Irfan

Ri: Confronto tra prestazioni di defettività tra due processi

Crea e apri nel file di dati JMP con colonne (nome):

Tempo: solo una sequenza di numeri da 1 a 100

Censore: con codice 0 e 1 (errore "SI" - 0 (sic!), Errore "NO" - 1)

Raggruppamento: con codice 1, 2 ecc. (Gruppi di confronto)

Poi:

Analizza-> Affidabilità e sopravvivenza-> Sopravvivenza

e attivare (barrare): "Plot Failure invece di Survival"

Scusa per brevità (a causa del mio inglese debole)

Ri: Confronto tra prestazioni di defettività tra due processi

Puoi trovare il riferimento Kaplan-Meier in

     Aiuto == Indice delle statistiche

 

Ri: Confronto tra prestazioni di defettività tra due processiCaro Medicc,

Sei in grado di indirizzarmi all'opzione di analisi in JMP che è in grado di eseguire questa probabilita 'cumulativa?

Rgrds

IrfanRi: Confronto tra prestazioni di defettività tra due processi

Mi sembra che uno dei possibili modi sia quello di confrontare le curve di Kaplan-Meier invertite (che sale dal basso verso l'alto) (che riflettono la probabilità cumulativa di fallimento). Come variabile temporale (asse X) è possibile utilizzare il "tempo condizionale" (l'unità di cui è wafer).