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Vergleichen der Leistung von Defekten zwischen zwei Prozessen

Hallo zusammen,

 

Ich plane, ein neues Verfahren zu evaluieren, das eine bessere Defektivitätsleistung aufweisen soll (Halbleiterindustrie). Meine Frage ist, sagen wir, dass mein Prozessfehler während bestimmter Experimentläufe nicht wiederholbar ist. Ich habe zum Beispiel in meinem 100-Wafer-Lauf festgestellt, dass der Fehler beim 20. und 50. Wafer-Lauf auftritt. Eine Wiederholung auf weiteren 100 Wafern lässt den Fehler auf den 10., 31. und 70. Wafer passieren. Wie gestalte ich in dieser Situation mein Experiment, um festzustellen, ob mein neuer Prozess tatsächlich die Defektivität meines Basisprozesses verbessert?

 

Hoffe, jemand kann mir dabei helfen

 

Rgrds

 

Irfan

Re: Vergleichen der Leistung von Defekten zwischen zwei Prozessen

Irfan, dein Alpha ist 0.4138 (Log-Rank-Test). Da 0,4138 größer als 0,05 ist, können wir die Nullhypothese nicht ablehnen, dass die beiden Gruppen gleich sind. So formal! Diese Tatsache sollte Sie jedoch nicht daran hindern, festzustellen, dass Ihre (kumulierte) Handlung niedriger ist (falls dies der Fall ist) und somit der Prozess hat eine bessere Defektivitätsleistung . Im Allgemeinen ist es immer noch schwierig, einen statistischen Signifikanzunterschied zu erhalten. Dies ist jedoch meine subjektive Einstellung (vielleicht finden Experten hier die Möglichkeit, ihre Korrekturanmerkungen zu machen.) ).

Re: Vergleichen der Leistung von Defekten zwischen zwei Prozessen

Hi Med,

 

Kann mir mitteilen, wofür die Zahl steht, ist das Alpha ebenfalls auf 0,05 gesetzt, was bedeutet, dass wir in diesem Fall die Nullhypothese, dass beide Gruppen gleich sind, nicht ablehnen können?

 

Rgrds

 

Irfan

Re: Vergleichen der Leistung von Defekten zwischen zwei Prozessen

Diese Kurven spiegeln die (kumulative) Wahrscheinlichkeit des Ausfalls wider. So
Ein Prozess mit einer besseren Defektivitätsleistung weist eine niedrigere Kurve auf.
Sie müssen auch den p-Wert berücksichtigen (aber nicht die Fetischisierung). Aber das alles trifft zu
zur Theorie der Statistik.

Re: Vergleichen der Leistung von Defekten zwischen zwei Prozessen

Hi Med,

 

Hier sind die Daten, die ich habe

 

 

 

Kann mir die Erklärung der Zahlen aus der obigen Analyse erklären

 

Rgrds

 

Irfan

Re: Vergleichen der Leistung von Defekten zwischen zwei Prozessen

Erstellen und öffnen Sie die JMP-Datendatei mit Spalten (Name):

Zeit: nur eine Zahlenfolge von 1 bis 100

Zensur: mit Code 0 und 1 (Fehler "JA" - 0 (sic!), Fehler "NEIN" - 1)

Gruppierung: mit Code 1, 2 usw. (Vergleichsgruppen)

Dann:

Analyse-> Zuverlässigkeit und Überleben-> Überleben

und aktivieren (Häkchen): "Plotversagen statt Überleben"

Entschuldigung für die Kürze (wegen meines schwachen Englisch)

Re: Vergleichen der Leistung von Defekten zwischen zwei Prozessen

Die Kaplan-Meier-Referenz finden Sie in

     Hilfe == Statistikindex

 

Re: Vergleichen der Leistung von Defekten zwischen zwei ProzessenLieber Medicc,

Können Sie mich auf die Analyseoption in JMP verweisen, die diese kumulative Wahrscheinlichkeit durchführen kann?

Rgrds

IrfanRe: Vergleichen der Leistung von Defekten zwischen zwei Prozessen

Es scheint mir, dass eine der möglichen Möglichkeiten darin besteht, die invertierten Kaplan-Meier-Kurven (von unten nach oben ansteigend) zu vergleichen (die die kumulative Ausfallwahrscheinlichkeit widerspiegeln). Als Zeitvariable (X-Achse) kann die "Bedingungszeit" verwendet werden (deren Einheit Wafer ist).