比較兩個過程之間的缺陷性能大家好，
我打算評估一個新的工藝，它應該具有更好的缺陷性能（半導體工業）。我的問題是，在某些實驗過程中，我的過程失敗是不可重複的。例如，在我的100個晶圓運行中，我觀察到故障發生在第20和第50個晶圓運行。在另外100個晶圓上重複運行，故障發生在第10個，第31個和第70個晶圓上。在這種情況下，我如何設計我的實驗，以確定我的新過程是否確實改善了我的基線過程的缺陷
希望有人能夠幫助我
Rgrds
伊爾凡
Re：比較兩個過程之間的缺陷性能Irfan，你的alpha是0.4138（Log-Rank測試）。由於0.4138大於0.05，我們無法拒絕兩組相同的零假設。如此正式！但是這個事實不應該阻止你說明你的（累積）情節較低（如果是這樣），因此這個過程具有更好的缺陷性能 。一般而言，獲得統計顯著性差異仍然非常困難。但這是我的主觀態度（也許，這裡的專家會發現他們可以做出更正的評論 ）。
Re：比較兩個過程之間的缺陷性能你好Med，
能夠與我分享這個數字代表什麼，alpha也設置為0.05？這意味著在這種情況下我們不能拒絕這兩個組相同的零假設？
Rgrds
伊爾凡
Re：比較兩個過程之間的缺陷性能這些曲線反映了失敗的（累積）概率。所以
具有更好的缺陷性能的過程具有較低的曲線。
還需要考慮（但不是戀物癖）p值。但這一切都適用
統計理論。
Re：比較兩個過程之間的缺陷性能你好Med，
這是我的數據
能夠向我解釋上面分析中顯示的數字的解釋
Rgrds
伊爾凡
Re：比較兩個過程之間的缺陷性能使用列（名稱）在JMP數據文件中創建和打開：
時間：只是1到100之間的一系列數字
檢查員：代碼為0和1（失敗“是” - 0（原文如此！），失敗“否” - 1）
分組：代碼1,2等（比較組）
然後：
分析 - >可靠性和生存 - >生存
並激活（勾選）：“情節失敗而不是生存”
抱歉簡短（因為我的英語不好）:)
Re：比較兩個過程之間的缺陷性能您可以在中找到Kaplan-Meier參考
幫助==統計指數
Re：比較兩個過程之間的缺陷性能親愛的Medicc，
您是否能夠指導JMP中能夠執行此累積可能性的分析選項？
Rgrds
伊爾凡Re：比較兩個過程之間的缺陷性能在我看來，其中一種可能的方法是比較倒置（從下到上）Kaplan-Meier曲線（反映失效的累積概率）。作為時間變量（X軸），可以使用“條件時間”（其單位是晶片）。
