非Nornal分佈的過程能力指數有哪些強有力的方法？<meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=UTF-8" />在歐洲，我們發現將Cpkn用作非正常的Cpk指標是常見的，其中均值被替換為中位數，而stdev被替換為IQR / 1.35。 對於某些“監管”或“客戶”報告，這似乎是被接受的，而不是通常的“折磨數據，直到它說明其正常”的轉變方法。 有沒有人有類似的經驗或更好的想法？（注意：任何能力指標的使用都應包括樣本大小，因為對於10個甚至100個原始數據點的樣本，置信區間很寬）。 此外，當工程知識在該問題上“深刻”，清除打字錯誤和操作員錯誤導致的測量損壞時，一些參數會被“理智限制”修剪。
Cpk標準配方的其他新用途（需要USL和LSL）是使用相同的公式，但使用電流控制限值而不是規格限制...只是檢查SPC圖表隨著時間的推移，看看限制仍然是大約3 sigma limit，對於真正“六西格瑪”工藝參數的規格限制，它將給出修改的Cpk方程（Cpk-control）的值大致為1.0而不是大約2.0。此圖表限制檢查方法使用我們注意到的最新25分。
