MSAとSPC：いくつかの落とし穴とそれらを回避する方法（2019-EU-30MP-063）レベル：中級
職務：アナリスト/科学者/エンジニア
Ippon Innovation、創設者兼統計学者、FrançoisBergeret
最初に、測定システム分析（不確かさの計算とR＆R）のJMP手法を示して、特定の指標の限界を示し、解決策を提案します。第2部では、管理図を扱い、統計的プロセス制御の通常の仮定が尊重されない場合に回避すべきいくつかの落とし穴を示します。正規性、独立性、単一の変動源、およびそれらをJMPで実用的かつ統計的に処理する方法です。プロセスの機能の側面についても説明します。また、まれなイベントの管理図についても説明します。いくつかの業界（製薬、マイクロエレクトロニクス）の産業データに関するすべてのトピックを説明します。
起こる品質と信頼性
