Level: Mittelstufe
Job Funktion: Analyst / Wissenschaftler / Ingenieur
François Bergeret, Gründer und Statistiker von Ippon Innovation
Zunächst werden JMP-Methoden zur Analyse von Messsystemen (Unsicherheitsberechnungen und R & R) demonstriert, um die Grenzen bestimmter Indikatoren aufzuzeigen und Lösungen vorzuschlagen. In einem zweiten Teil werden wir uns mit Kontrolldiagrammen befassen und einige Fallstricke aufzeigen, die zu vermeiden sind, wenn die üblichen Annahmen der statistischen Prozesskontrolle nicht eingehalten werden: Normalität, Unabhängigkeit, einzelne Variationsquelle und wie man sie pragmatisch, aber statistisch mit JMP behandelt. Fähigkeitsaspekte des Prozesses werden ebenfalls diskutiert. Wir werden auch die Kontrollkarten für seltene Ereignisse diskutieren. Wir werden alle Themen zu Industriedaten aus verschiedenen Branchen (Pharma, Mikroelektronik) veranschaulichen.
