Niveau: intermédiaire
Fonction du poste: Analyste / Scientifique / Ingénieur
François Bergeret, fondateur et statisticien, Ippon Innovation
Nous allons d'abord démontrer les méthodes JMP d'analyse des systèmes de mesure (calculs d'incertitude et R&R) pour montrer les limites de certains indicateurs et proposer des solutions. Dans une seconde partie, nous traiterons des cartes de contrôle, montrant quelques écueils à éviter lorsque les hypothèses habituelles du contrôle statistique des processus ne sont pas respectées: normalité, indépendance, source unique de variation, et comment les traiter de manière pragmatique mais statistique avec JMP. Les aspects de capacité du processus seront également discutés. Nous aborderons également les cartes de contrôle des événements rares. Nous illustrerons tous les sujets sur les données industrielles de plusieurs industries (pharma, microélectronique).