Livello: intermedio
Funzione di lavoro: analista / scienziato / ingegnere
Industria: produzione
François Bergeret, Fondatore e Statistico, Ippon Innovation
Innanzitutto dimostreremo i metodi JMP di analisi del sistema di misurazione (calcoli di incertezza e R & R) per mostrare i limiti di alcuni indicatori e proporre soluzioni. In una seconda parte, tratteremo i grafici di controllo, mostrando alcune insidie da evitare quando non vengono rispettati i consueti assunti del controllo statistico del processo: normalità, indipendenza, singola fonte di variazione e come trattarli pragmaticamente ma statisticamente con JMP. Verranno inoltre discussi aspetti relativi alla capacità del processo. Discuteremo anche delle rare tabelle di controllo degli eventi. Illustreremo tutti gli argomenti sui dati industriali di diversi settori (farmaceutico, microelettronico) e mostreremo come utilizzare il nuovo Dashboard JMP per automatizzare l'SPC.
