Level: Mittelstufe
Jobfunktion: Analyst / Wissenschaftler / Ingenieur
Industrie: Herstellung
François Bergeret, Gründer und Statistiker von Ippon Innovation
Zunächst werden JMP-Methoden der Messsystemanalyse (Unsicherheitsberechnungen und R & R) demonstriert, um die Grenzen bestimmter Indikatoren aufzuzeigen und Lösungen vorzuschlagen. In einem zweiten Teil werden wir uns mit Kontrolldiagrammen befassen, die einige Fallstricke aufzeigen, die zu vermeiden sind, wenn die üblichen Annahmen der statistischen Prozesskontrolle nicht beachtet werden: Normalität, Unabhängigkeit, eine einzige Variationsquelle und wie man sie pragmatisch, aber statistisch mit JMP behandelt. Fähigkeitsaspekte des Prozesses werden ebenfalls besprochen. Wir werden auch die Kontrolldiagramme für seltene Ereignisse besprechen. Wir werden alle Themen zu Industriedaten aus verschiedenen Branchen (Pharma, Mikroelektronik) erläutern und zeigen, wie Sie das neue JMP Dashboard zur Automatisierung von SPC verwenden können.
