Niveau: intermédiaire
Fonction: Analyste / Scientifique / Ingénieur
Industrie: fabrication
François Bergeret, fondateur et statisticien, Ippon Innovation
Dans un premier temps, nous présenterons les méthodes d’analyse du système de mesure JMP (calculs d’incertitude et R & R) afin de montrer les limites de certains indicateurs et de proposer des solutions. Dans une seconde partie, nous aborderons les cartes de contrôle, en montrant quelques écueils à éviter lorsque les hypothèses habituelles du contrôle de processus statistique ne sont pas respectées: normalité, indépendance, source de variation unique et comment les traiter de manière pragmatique mais statistique avec JMP. Les aspects de capacité du processus seront également discutés. Nous discuterons également des cartes de contrôle des événements rares. Nous illustrerons tous les sujets sur les données industrielles de plusieurs industries (pharma, microélectronique) et montrerons comment utiliser le nouveau tableau de bord JMP pour automatiser SPC.
