Más de 70 personas se reunieron en la sede de SAS el viernes pasado para escuchar al Dr. William Meeker, profesor de estadística en la Universidad Estatal de Iowa, hablar sobre el análisis de confiabilidad. Después de un desayuno caliente, los asistentes vieron la presentación de Meeker sobre los principios detrás de los gráficos de probabilidad, el análisis de múltiples modos de falla y las pruebas de vida aceleradas.
Para cada tema, el director de investigación y desarrollo estadístico de JMP, Brad Jones, mostró las capacidades del software de JMP para analizar, trazar y proporcionar estadísticas relevantes sobre la variedad de distribuciones disponibles para ayudar a los usuarios a comprender sus datos.
De particular interés para la audiencia fue la discusión sobre el análisis de múltiples modos de falla, que es importante para comprender el impacto del desgaste de diferentes partes en el rendimiento de un producto. Entre los asistentes se encontraban ingenieros que ayudan a sus empresas a determinar períodos de garantía razonables, por lo que este tema fue particularmente relevante para ellos.
Este fue el primer seminario en vivo en el JMP Explorers Series . Próximo altavoces Incluyen a Richard DeVeaux, Sam Savage y Stephen Few.
Mientras estaba en la sede de SAS, Meeker grabó cuatro videos sobre análisis de confiabilidad, y Leo Wright de JMP grabó cuatro demostraciones de JMP que lo acompañaban. Ver los videos de webcast y demos. Deberá iniciar sesión con un perfil de SAS o configurar un perfil y luego iniciar sesión. Los datos para las demostraciones también están disponibles para descargar. ¿Por qué no usar los datos para ejecutar los análisis de confiabilidad?
