Più di 70 persone si sono riunite presso la sede di SAS lo scorso venerdì per ascoltare il dott. William Meeker, professore di statistica all'Iowa State University, che parla di analisi di affidabilità. Dopo una colazione calda, i partecipanti hanno assistito alla presentazione di Meeker sui principi alla base di grafici di probabilità, analisi di modalità di guasto multiple e test di durata accelerata.
Per ogni argomento, il direttore della ricerca e sviluppo statistica JMP Brad Jones ha mostrato le capacità del software JMP di analizzare, tracciare e fornire statistiche pertinenti sulla varietà di distribuzioni disponibili per aiutare gli utenti a comprendere i loro dati.
Di particolare interesse per il pubblico è stata la discussione dell'analisi delle modalità di guasto multiple, che è importante per comprendere l'impatto dell'usura di parti diverse sulle prestazioni di un prodotto. Tra i partecipanti c'erano ingegneri che aiutano le loro aziende a determinare periodi di garanzia ragionevoli, quindi questo argomento era particolarmente pertinente per loro.
Questo è stato il primo seminario dal vivo nel Serie JMP Explorers . Prossime Altoparlanti includere Richard DeVeaux, Sam Savage e Stephen Few.
Mentre era al quartier generale della SAS, Meeker ha registrato quattro video sull'analisi dell'affidabilità, e Leo Wright della JMP ha registrato quattro demo di JMP. vista i video del webcast e demo. È necessario accedere utilizzando un profilo SAS o impostare un profilo e quindi accedere. I dati per le demo sono disponibili anche per il download. Perché non utilizzare i dati per eseguire autonomamente le analisi di affidabilità ?.
