Über 70 Personen kamen am vergangenen Freitag in der SAS-Zentrale zusammen, um zu hören, wie Dr. William Meeker, Professor für Statistik an der Iowa State University, über Zuverlässigkeitsanalyse sprach. Nach einem warmen Frühstück beobachteten die Teilnehmer die Präsentation von Meeker, in der sie die Prinzipien hinter Wahrscheinlichkeitsplänen, die Analyse mehrerer Ausfallmodi und die beschleunigte Lebensdauerprüfung ausführten.
Für jedes Thema zeigte Brad Jones, JMP Statistical R & D, die Fähigkeiten von JMP-Software zum Analysieren, Plotten und Bereitstellen relevanter Statistiken über die verschiedenen verfügbaren Distributionen, um den Benutzern das Verständnis ihrer Daten zu erleichtern.
Von besonderem Interesse für das Publikum war die Diskussion über die Analyse mehrerer Ausfallmodi, die für das Verständnis der Auswirkungen des Verschleißes verschiedener Teile auf die Leistung eines Produkts wichtig ist. Unter den Teilnehmern befanden sich Ingenieure, die ihre Unternehmen bei der Festlegung angemessener Gewährleistungsfristen unterstützen, sodass dieses Thema für sie besonders relevant war.
Dies war das erste Live-Seminar im JMP Explorers Series . Bevorstehende Lautsprecher Dazu gehören Richard DeVeaux, Sam Savage und Stephen Few.
Während er sich in der SAS-Zentrale befand, nahm Meeker vier Videos zur Zuverlässigkeitsanalyse auf, und Leo Wright von JMP nahm vier begleitende JMP-Demos auf. Aussicht die Webcast-Videos und Demos. Sie müssen sich mit einem SAS-Profil anmelden oder ein Profil einrichten und sich dann anmelden. Die Daten für die Demos stehen auch zum Download zur Verfügung. Warum nutzen Sie die Daten nicht, um die Zuverlässigkeitsanalysen selbst durchzuführen?
