Vendredi dernier, plus de 70 personnes s'étaient rassemblées au siège de SAS pour entendre le Dr William Meeker, professeur de statistique à l'Iowa State University, parler de l'analyse de fiabilité. Après un déjeuner chaud, les participants ont visionné la présentation de Meeker couvrant les principes des diagrammes de probabilité, l'analyse de plusieurs modes de défaillance et des tests de durée de vie accélérée.
Pour chaque sujet, Brad Jones, directeur de la recherche statistique chez JMP, a montré les capacités du logiciel JMP pour analyser, tracer et fournir des statistiques pertinentes sur les diverses distributions disponibles pour aider les utilisateurs à comprendre leurs données.
La discussion sur l'analyse des modes de défaillance multiples, qui est importante pour comprendre l'impact de l'usure de différentes pièces sur les performances d'un produit, a particulièrement intéressé l'auditoire. Parmi les participants figuraient des ingénieurs qui aidaient leurs entreprises à déterminer des périodes de garantie raisonnables. Ce sujet leur était donc particulièrement utile.
Ce fut le premier séminaire en direct dans le Série JMP Explorers . Prochain haut-parleurs comprennent Richard DeVeaux, Sam Savage et Stephen Few.
Alors qu'il était au siège de SAS, Meeker a enregistré quatre vidéos sur l'analyse de fiabilité et Leo Wright de JMP a enregistré quatre démonstrations JMP. Vue les vidéos diffusées sur le Web et des démos. Vous devrez vous connecter à l'aide d'un profil SAS ou configurer un profil, puis vous connecter. Les données pour les démos sont également disponibles au téléchargement. Pourquoi ne pas utiliser les données pour effectuer vous-même les analyses de fiabilité?.
