팩터 커버링 어레이를 사용한 효과적인 테스트 설계<meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=UTF-8" />Melanie Drake, JMP 수석 개발 테스터, SAS
JMP는 DOE 메뉴에 Covering Array라는 새로운 플랫폼을 제공합니다. 팩터 취재 배열은 많은 상호 작용이있는 복잡한 시스템에 대한 테스트 커버리지를 설계하는 강력한 도구입니다. 커버링 어레이를 사용하여 최적의 테스트 케이스 및 적용 범위를 생성하고 위험을 최소화 할 수 있습니다. 커버링 어레이를 설계하기 전에 어떤 요소가 중요하고 어떤 종류의 상호 작용이 가장 큰 위험을 가지고 있는지를 아는 것이 중요합니다. 이 백서에서는 배열을 덮어 시스템의 위험 수준을 최소화하고 결함을 발견 할 가능성을 극대화하기위한 테스트 설계에 대해 논의합니다. 또한 덮개 배열을 사용하는 테스트 디자인 예제를 살펴볼 것입니다.
실험 설계
