Identificazione di strumenti non autorizzati e deriva dello stato del processo mediante l'utilizzo di tecniche di visualizzazione e analisi del software JMP
JimNelson, Specialista in dati ingegneristici – Freescale Semiconductor
La realizzazione di circuiti integrati (chip per computer) richiede centinaia di serie di passaggi molto impegnativi.Centinaia di apparecchiature diverse vengono utilizzate all'interno di questi passaggi.La deriva del processo e il calo della resa sono un dato di fatto temuto nell'industria dei semiconduttori.L'identificazione di quali fasi di processo e/o strumento o combinazione di strumenti hanno contribuito alla deriva del processo o al calo della resa è un processo complesso e dispendioso in termini di tempo, che occupa una notevole quantità di tempo degli ingegneri all'interno di Freescale.Per risolvere questi problemi viene utilizzata una combinazione di strumenti analitici forniti dal software JMP, metodologie statistiche sviluppate da Freescale e script JMP analitici e di visualizzazione sviluppati da Freescale.Questo documento descrive l'uso del partizionamento, una metodologia sviluppata da Freescale, Step Origin of a Drift Analysis (SODA) e due script software JMP sviluppati da Freescale.Gli script consentono di ordinare i grafici e i grafici in base alla valutazione statistica insieme alla possibilità di passare da un grafico all'altro molto rapidamente.Questa metodologia consente una combinazione molto positiva di guida analitica, unita a strumenti che forniscono agli ingegneri prove visive per abbinare la loro conoscenza ed esperienza nel prendere decisioni su ciò che deve essere fatto per riportare i processi in allineamento.
