제조 환경에서 문제 도구를 식별하기위한 표준 최소 자승법제조 환경에서 문제 도구를 식별하기위한 표준 최소 자승법
에드워드 엘 허친스, 크리
우리는 제조 환경에서 문제 도구를 식별하는 분석 방법을 설명합니다. JMP를 사용하여 yield 문제를 시각화하고 관련 데이터 세트를 수집하며 문제에 가장 많이 기여하는 도구를 식별하는 표준 최소 자승 모델을 작성했습니다. 일단 식별되면, 추가 분석은 적절한 시정 조치를 제안했습니다. 수많은 경우에이 전략이 문제 도구를 식별하는 효과적인 방법이라는 것을 알게되었습니다.
데이터 시각화
