製造環境における問題ツールを識別するための標準最小二乗法製造環境における問題ツールを識別するための標準最小二乗法
エドワードL.ハッチンス、クリー社
製造環境で問題のあるツールを特定するための分析方法について説明します。JMPを使用して、歩留まりの問題を視覚化し、関連するデータセットを収集し、問題に最も寄与しているツールを特定するための標準最小二乗モデルを作成しました。いったん識別されると、さらなる分析は適切な是正措置を示唆しました。多くの場合、この戦略は問題のあるツールを特定するための効果的な方法であることがわかりました。
データの可視化
