倫敦研討會展示了可靠性分析的力量本週早些時候，我們很高興比爾米克博士 ，世界領先的專家之一可靠性分析，出現在倫敦。在分享了可靠性出錯後可能發生的事情的一些生動例子之後，他談到了五個方面的可靠性，Leo Wright展示瞭如何 JMP 可以適用於他們：
用於查看疲勞數據的壽命分佈概率圖多種故障模式，用於確定失敗的競爭原因貝葉斯方法在可靠性分析中的應用在電阻器加速測試中使用退化分析使用可靠性演示進行測試計劃我帶走了三件主要的東西：
該可靠性平台在JMP 10中得到了增強，成為世界一流的。這是在可靠性領先人物Bill Meeker博士的指導下完成的。JMP是一個集成的統計“工具箱”，為工程師提供數據分析和統計功能的一站式服務 - 這意味著在許多情況下，他們只需要JMP來執行大多數可靠性功能，而不是昂貴的軟件集合包。
