<meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=UTF-8" /> Tony Cooper, PhD, consultant analytique principal, SAS
Sam Edgemon, consultant technique principal, SAS
La fabrication de plaquettes de semi-conducteurs et les MMM (machines de mesure coordonnée) fournissent de nombreuses mesures pour une seule pièce. Un autre exemple de mesures répétées dans une unité est le nombre de défauts. Ces données incluent un emplacement dans l'unité. La modélisation utilisant les informations spatiales peut être difficile, mais les informations spatiales doivent toujours être utilisées dans la visualisation. Les informations potentielles fournies par ces données incluent: "L'unité actuelle est-elle similaire à d'autres unités récentes?" Et "Où se concentrent les opportunités au sein de l'unité?" graphiques et regroupement. Plus important encore, les données seront visualisées à l'aide de cartes personnalisées dans JMP. Pour que l'analyse fonctionne, il faudra plus d'un arrangement des données. fractionner les données pour la PCA et la mise en cluster, mais également fusionner les informations de la grappe avec la vue empilée d'origine. Cette présentation décrit une méthodologie rationalisée avec les scripts JMP pour indiquer des périodes de temps de traitement similaires sur une carte de contrôle, puis mapper les informations de la partie interne pendant chacune de ces périodes.
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