David lee , Director de Calidad y Confiabilidad, OLEDWorks
Cada experimento produce múltiples tipos de datos, cada uno de los cuales requiere análisis y controles únicos debido a la naturaleza sub-micrónica de un innovador diodo orgánico emisor de luz (OLED). Se discutirán tres métodos de datos específicos. Primero, la premisa del estudio se centra en un diseño de cribado definitivo de seis factores que se construyó utilizando las nuevas características incorporadas en JMP 13 para mejorar la detección de potencia y señal. Se modelaron múltiples respuestas con un modelo de defecto generado mediante el uso de los estudios de Profiler y Simulation. En segundo lugar, los dispositivos se monitorean continuamente para detectar la pérdida de luminosidad en una prueba de atenuación acelerada. Con frecuencia, los dispositivos se eliminan de la prueba antes de alcanzar su punto de falla. Los tiempos de falla pronosticados se pueden estimar utilizando un modelo no lineal personalizado en las plataformas de degradación de confiabilidad o modelo no lineal. Los tiempos de falla estimados se incorporaron a las técnicas tradicionales de supervivencia paramétrica, así como a las nuevas características de la plataforma de Regresión Generalizada. Por último, los datos de luminosidad se recopilan en todo el espectro visual, lo que da como resultado aproximadamente 100 respuestas correlacionadas.
