David Lee , Direttore di qualità e affidabilità, OLEDWorks
Ogni esperimento produce più tipi di dati, ciascuno dei quali richiede analisi e controlli unici a causa della natura sub-micron di un innovativo diodo ad emissione luminosa organico (OLED). Verranno discussi tre metodi di dati specifici. Innanzitutto, la premessa dello studio è incentrata su un progetto di screening definitivo a sei fattori che è stato realizzato utilizzando le nuove funzionalità incorporate in JMP 13 per migliorare il rilevamento di potenza e segnale. Le risposte multiple sono state modellate con un modello di difetto generato tramite l'uso degli studi di Profiler e Simulation. In secondo luogo, i dispositivi vengono continuamente monitorati per la perdita di luminosità in un test di dissolvenza accelerata. Spesso i dispositivi vengono rimossi dal test prima di raggiungere il loro punto di errore. I tempi di guasto previsti possono essere stimati utilizzando un modello non lineare personalizzato nelle piattaforme di Degrado di affidabilità o Modello non lineare. I tempi di fallimento stimati sono stati quindi incorporati nelle tradizionali tecniche di sopravvivenza parametrica, nonché nuove funzionalità nella piattaforma di regressione generalizzata. Infine, i dati di radianza vengono raccolti attraverso lo spettro visivo, determinando circa 100 risposte correlate.
