David Lee , Direktor für Qualität und Zuverlässigkeit, OLEDWorks
Jedes Experiment liefert mehrere Datentypen, die aufgrund der Submikron-Natur einer innovativen organischen Leuchtdiode (OLED) jeweils einzigartige Analysen und Kontrollen erfordern. Drei spezifische Datenmethoden werden diskutiert. Erstens konzentriert sich die Prämisse der Studie auf ein definitives Sechs-Faktor-Screening-Design, das unter Verwendung neuer in JMP 13 integrierter Funktionen für eine verbesserte Leistungs- und Signalerkennung erstellt wurde. Mehrere Antworten wurden mit einem Defektmodell modelliert, das durch die Verwendung der Profiler- und Simulationsstudien generiert wurde. Zweitens werden die Geräte in einem beschleunigten Fading-Test kontinuierlich auf Strahlungsverlust überwacht. Häufig werden Geräte aus dem Test entfernt, bevor sie ihren Versagenspunkt erreichen. Prognostizierte Ausfallzeiten können durch Verwendung eines benutzerdefinierten nichtlinearen Modells in den Plattformen Zuverlässigkeitsdegradation oder nichtlineares Modell geschätzt werden. Geschätzte Ausfallzeiten wurden dann in traditionelle parametrische Überlebenstechniken sowie neue Funktionen in der Generalized Regression-Plattform integriert. Schließlich werden Strahlungsdaten über das gesamte visuelle Spektrum gesammelt, was zu ungefähr 100 korrelierten Antworten führt.
