David Lee , directeur de la qualité et de la fiabilité, OLEDWorks
Chaque expérience produit plusieurs types de données, chacune nécessitant des analyses et des contrôles uniques en raison de la nature submicronique d'une diode électroluminescente organique (OLED) innovante. Trois méthodes de données spécifiques seront discutées. Premièrement, le principe de l'étude est centré sur une conception de dépistage définitive à six facteurs qui a été construite en utilisant de nouvelles fonctionnalités intégrées dans JMP 13 pour une puissance et une détection de signal améliorées. Les réponses multiples ont été modélisées avec un modèle de défaut généré via l'utilisation des études Profiler et Simulation. Deuxièmement, les appareils sont continuellement surveillés pour la perte de luminosité dans un test de fondu accéléré. Souvent, les appareils sont retirés du test avant d'atteindre leur point de défaillance. Les temps de défaillance prévus peuvent être estimés en utilisant un modèle non linéaire personnalisé dans les plates-formes de dégradation de la fiabilité ou de modèle non linéaire. Les temps de défaillance estimés ont ensuite été intégrés aux techniques de survie paramétriques traditionnelles, ainsi qu'aux nouvelles fonctionnalités de la plate-forme de régression généralisée. Enfin, les données de luminance sont collectées sur tout le spectre visuel, ce qui donne environ 100 réponses corrélées.
