演议 嘉宾 : 许广勤 , SMIC, 工艺 整合 资深 经理
스피커: 광진 쑤 , SMIC 수석 프로세스 통합 관리자
주제 : 半导体 工房 不同 生产 阶段 的 统计 分析 实践
이야기: 반도체 파운드리의 다양한 생산 단계 중 통계 실습
摘 要 :
반 생산품 생산 과정은 과도한 공정 단계에서 불평등 공정 단계와 연관되어 있으며, 불일치가 발생하면 공정과 관련한 불일치가 발생할 수있다. ) 긴밀한 협상을 요구할 때, 긴밀한 협조가 필요하다. . SPC는 SPC에 중요한 요소가 될 수 있습니다. 중요한 것은 SPC가 중요한 요소가 될 수 있다는 것입니다. , 전면적 인 수표는 중요한 이론적 인 이론에서 유래 한 것입니다 유능한 생산 능력을 유지하기 위해서는 유능한 생산 능력을 갖추어야합니다.
추상:
반도체 제품 제조의 각 단계에는 여러 가지 엔지니어링 포커스가 있습니다. 따라서 다양한 통계 도구가 도입되었습니다. 파일럿 단계에서는 최상의 프로세스 조건을 찾아 프로세스 창을 탐색하는 것이 중요합니다. 실험 설계 (DOE)는 제한된 자원과 짧은 사이클 시간으로 원하는 공정 조건을 달성하는 데 유용한 도구입니다. 리스크 생산에서 엄격한 공정 제어는 공정 안정성과 조기 고장 탐지를 보장합니다. SPC (Statistical Process Control) 도구는 프로세스 성능을 모니터링하고 프로세스가 제어되는지 확인하고 품질 변동을 줄이기 위해 광범위하게 사용됩니다. 대량 생산 단계에서 용량 확장은 프로세스 안정성만큼이나 중요하며 전체 데이터 일치는 견학없이 신속하게 확장 할 수있는 핵심 사고 방식입니다. JMP는 반도체 제품의 전 생애 동안 중요한 통계적 역할을 수행 할 수 있습니다.
