le fiabilité des composants, des dispositifs et des systèmes complexes est un aspect critique de l'expérience de qualité telle que perçue et jugée par les consommateurs. La fiabilité, qui est souvent définie comme «qualité dans le temps», nécessite de nombreuses techniques d'analyse différentes en fonction du type de données utilisé et du but des résultats qui nous intéressent.
Analyse de dégradation Il s’agit d’une forme spéciale de données de fiabilité dans laquelle une «défaillance» est définie à un moment de dégradation des performances, mais pas nécessairement une défaillance matérielle (l’appareil ne fonctionne plus). C'est pourquoi on parle souvent de «pannes légères». Les feux de navigation situés sur l'aile d'un avion en sont un exemple courant. Ils peuvent toujours être opérationnels, mais le flux lumineux est devenu inférieur à une norme minimale. Lorsque cela se produit, la lampe a été considérée comme une panne. Le flux lumineux peut être «mesuré de manière répétée» dans le temps.
Et si le processus de dégradation nécessite destruction de l'unité afin d'obtenir une mesure? Les exemples incluent la résistance à la rupture ou les performances adhésives telles que la détérioration du ruban adhésif pour couches sur de longues durées de stockage. D'autres exemples pourraient être l'intégrité du sceau des aliments emballés scellés avec des liaisons thermiques ou adhésives. Un autre aspect est connu sous le nom mesures perturbatrices , où les appareils doivent être désassemblés pour être testés puis réassemblés, ce qui peut affecter la fiabilité. Dans ce cas, une seule mesure par unité peut être obtenue. Avec des tailles d’échantillon accrues, d’autres méthodes sont disponibles: Entrez la nouvelle plateforme de dégradation destructive dans JMP 12.
La plate-forme de dégradation destructive vous permet d’ajuster un modèle en sélectionnant dans une liste de 1) un modèle prédéfini comprenant des valeurs de départ intégrées, 2) des distributions de données et 3) des transformations courantes avec une facilité et une efficacité accrues.
Après avoir sélectionné le modèle souhaité dans une liste prédéfinie de modèles dans la «bibliothèque de modèles», appelée Définition de chemin, vous pouvez comparer visuellement les exemples de formes de style de chemin associés à chaque type de modèle au tracé de dégradation pour vous aider à sélectionner le meilleur modèle basé sur le comportement attendu. Plusieurs modèles peuvent être générés à des fins de comparaison, modifiant les distributions et les transformations sous-jacentes. Pour déterminer le meilleur ajustement statistique, vous utiliseriez ensuite les critères de comparaison des modèles, AICc ou BIC.
Une fois que vous avez généré les modèles d'intérêt, vous pouvez afficher la section Liste des modèles du rapport qui vous permet de faire défiler facilement tous les modèles que vous avez générés. Vous pouvez comparer et déterminer rapidement les prévisions pour chaque modèle.
Une nouvelle série de profileurs de prévision est disponible pour vous permettre d'effectuer des évaluations et des analyses hypothétiques sur la dégradation, les temps de passage et les probabilités de passage. Tous les profilers incluent des intervalles de confiance.
Auparavant, vous pouviez effectuer une analyse de dégradation destructive à l'aide de la plateforme JMP Degradation existante (toujours disponible dans JMP 12). Cependant, vous deviez fournir une formule JSL avec des valeurs de départ. Maintenant, il vous suffit de faire correspondre la forme des modèles de distribution possibles à tracer: ligne simple, lignes multiples, courbure, etc. La nouvelle plate-forme de dégradation destructive élimine tout le travail lourd nécessaire pour vous permettre de vous concentrer sur l'analyse. JMP simplifie encore plus la tâche des ingénieurs qui souhaitent effectuer des analyses statistiques complexes et gagner du temps dans le processus sans fin d'amélioration des produits.
