<meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=UTF-8" />로버트 머피( 머피 ), 기술 직원, Advanced Micro Devices
제이슨 파켓( 제이슨.파켓 ), 제품 개발 엔지니어, Advanced Micro Devices
추상적인 - 설계 자원의 사용을 최대화하고 시장 출시 시간을 최소화하기 위해 시스템 온 칩(SoC) 설계는 상당한 양의 기능 블록 재사용을 사용합니다. 이러한 재사용은 블록 수준에서 성능 및 수율을 비교하기 위한 기반을 제공하여 집중적인 디버그 및 추가 최적화 기회를 가능하게 합니다. 이 백서에서는 JMP의 Graph Builder 플랫폼에서 사용할 사용자 정의 지도를 생성하는 과정을 안내합니다. 이 기술은 고도의 대화형 도구를 사용하여 공간 구동 신호를 탐색하기 위한 유용한 접근 방식을 제공합니다. JMP에서 맞춤 지도의 기능을 활용하여 향상된 프로세스 개선을 추진하세요.
색인 용어 —맞춤 지도, Hyper-heatmap, 근본 원인 분석, SoC, System-on-Chip, 수율.
I. 서론
오늘날의 SoC는 끊임없이 증가하는 성능과 전력 효율성을 추구하는 최첨단 반도체 공정 기술을 기반으로 구축된 상대적으로 큰 장치인 경우가 많습니다. I/O, 컴퓨팅 및 그래픽과 같은 다양한 칩 기능을 제공하는 복제 및 고유 블록의 어레이로 구성됩니다. 이러한 블록은 다이의 물리적 위치에 따라 맵으로 표시될 수 있습니다. 이러한 유형의 맵을 JMP에서 사용자 정의 맵으로 사용함으로써 엔지니어나 분석가는 프로세스, 테스트 또는 수율 문제를 더 빠르게 디버깅할 수 있는 강력한 시각화를 생성할 수 있습니다. 결과적으로 이것은 수율과 품질에 대한 더 빠른 램프를 지원하고 따라서 신제품 설계에 대한 더 빠른 투자 수익(ROI)을 지원합니다. Graph Builder에서 다이 기반 히트맵을 웨이퍼의 물리적 위치에 따라 결합하면 이전에는 눈에 띄지 않았던 효과가 나타납니다. 이는 많은 반도체 제조 문제가 중앙 또는 가장자리 효과와 같은 웨이퍼 내의 공간 위치에 크게 의존하기 때문입니다. 이러한 위치 종속성을 명확하게 설명하면 잠재적인 근본 원인 목록이 상당히 좁아지고 프로세스 개선이 가속화됩니다.
II. 사용자 지정 지도 사용의 이점
현재 엔지니어나 분석가가 이상값 응답을 식별하기 위해 선택할 수 있는 다양한 도구가 있습니다. 이에 대한 몇 가지 예에는 히스토그램과 박스 플롯이 포함됩니다. 이러한 도구는 유용하고 활용도가 높지만 훨씬 더 빠르게 패턴을 식별하기 위한 물리적 위치를 설명하는 기능이 부족합니다. 이러한 패턴을 이해하면 후속 분석 및 근본 원인 격리의 범위를 줄이는 데 도움이 되어 디버그 및 수율 개선을 위한 처리 시간을 단축할 수 있습니다.
이 문서는 반도체 산업에 초점을 맞추고 있지만 맞춤형 맵의 적용은 공간 신호가 있는 많은 설정에서 유용할 수 있습니다.
III. JMP에서 맞춤 지도 만들기
JMP에서 사용자 정의 지도 모양 생성은 각 모양의 정점을 하나씩 연결하여 수행됩니다. 이를 위해 JMP에는 '-Name' 파일과 '-XY' 파일의 두 가지 정의 파일 형태로 정점 좌표 정보가 필요합니다. '-Name' 파일에 필수 숫자가 포함되어 있습니다. 모양 ID 그리고 이름 열과 '-XY' 파일에는 모양 ID, 부품 ID, X 그리고 와이 정점의 좌표.그만큼 모양 ID 열은 '-XY' 파일의 좌표를 '-Name' 파일의 모양 이름에 연결하는 것입니다.
정점 좌표를 사용할 수 있는 경우 '-Name' 및 '-XY' 파일을 몇 단계로 생성할 수 있습니다.
각 모양이 데이터 테이블에서 단일 행을 차지하도록 좌표 파일을 요약합니다. 각 셰이프에 고유한 ID를 부여하는 오름차순(1부터 시작)으로 '셰이프 ID' 열을 만듭니다. 셰이프 ID는 테이블의 첫 번째 열이어야 합니다.테이블을 '로 저장 $$$ -Name.jmp' 여기서 $$$ 선택한 접두사입니다. 이 파일에는 각 모양을 나타내는 사용자 친화적인 이름 열이 있어야 합니다. 이 열의 열 속성 내에서 역할 매핑을 선택하고 '모양 이름 정의'로 설정합니다(그림 1 참조). 이 열의 값은 오버레이에 대한 원시 데이터를 연결하는 데 사용되므로 이는 중요한 단계입니다.
- 무화과. 1 . 도형 이름 정의 맵 역할 속성 설정
원래 좌표 테이블이 열려 있는 상태에서 방금 생성된 고유한 셰이프 ID 열을 병합하고 셰이프 ID를 기준으로 오름차순으로 테이블을 정렬합니다. 데이터 테이블을 '로 저장 $$$ -XY.jmp' 여기서 $$$ '-Name' 파일에 사용된 접두사와 동일해야 합니다.
이 '-XY' 파일에는 4개의 필수 열이 필요합니다. 모양 ID , 엑스 , 와이 , 그리고 부품 ID . 현재 상태에서 파일에는 이 모든 정보가 있어야 하며 열 이름만 변경하면 됩니다. 그러나 다음이 누락됩니다. 부품 ID 열. 이 열은 기본적으로 여러 섬으로 구성된 하와이 주와 같이 특정 모양에 여러 개의 개별 부분이 있는지 JMP에 알려줍니다. 각각의 모양이 하나의 부분만 가지는 경우가 종종 있습니다. 이 경우 부품 ID 열을 모두 하나로 설정할 수 있습니다. 그만큼 엑스 그리고 와이 열에는 각 모양의 각 정점 좌표가 포함됩니다. 강조할 가치가 있는 미묘한 세부 사항은 '-XY' 파일에서 각 모양의 꼭지점에 대한 모양 순서가 잘못 구성된 경우 모양의 부정확한 표현으로 이어질 수 있으므로 중요하다는 것입니다. JMP는 '-XY' 매핑 파일을 사용하여 꼭지점에서 꼭지점으로 단계적으로 모양을 추적합니다(파일의 첫 번째 행에서 시작하여 마지막 행까지). 새 추적은 각각의 새 모양 ID 또는 부품 ID로 시작됩니다. 그림 2는 정점의 순서가 단순한 직사각형 모양을 추적하는 데 어떤 차이를 만드는지에 대한 예를 보여줍니다.
- 무화과. 2 . 모양에 대한 올바른 정점 순서 및 잘못된 정점 순서
원시 좌표 데이터가 여러 유형의 사용자 지정 지도에서 일관적인 경우 '-XY' 및 '-Name' 모양 정의 파일을 만드는 JSL(JMP 스크립팅 언어) 스크립트가 유용할 것입니다.
사용자 정의 맵 생성에 대한 자세한 내용은 도움말>도움말 콘텐츠>Essential Graphing>Create Maps>Graph Builder>Custom Map Files 리소스를 확인하십시오.
마지막으로 주목해야 할 점은 '-Name' 및 '-XY' 형상 정의 파일이 올바르게 작동하도록 매핑하려면 동일한 접두사를 사용하여 동일한 디렉터리 내에 저장해야 한다는 것입니다.
IV. 맞춤 지도 사용
정의 파일이 구성되면 데이터를 JMP로 가져올 수 있습니다. Graph Builder에서 데이터를 시각화하기 전에 데이터를 사용자 정의 맵 정의 파일과 연결하기 위한 최종 준비 단계가 필요합니다. 정의된 항목에서 찾은 것과 동일하게 일치하는 값을 가진 데이터의 열이 있어야 합니다. 모양 이름 정의 그렇지 않으면 JMP에서 사용자 정의 지도를 연결할 수 없습니다.
데이터 테이블을 사용자 지정 맵에 연결하려면 셰이프 이름을 저장하는 데이터 테이블 내 열의 열 속성을 엽니다. Map Role 속성 내에서 'Shape Name Use' 옵션이 선택되었는지 확인하고 적절한 Shape 정의 열이 선택된 'Map name 데이터 테이블'로 '-Name' 파일을 선택합니다(그림 3 참조). JMP11에서 이러한 옵션에는 '-Name' 파일을 검색할 수 있는 대화형 파일 대화 상자가 없으므로 복사하여 붙여넣거나 텍스트 상자에 입력해야 합니다('.jmp' 확장자 포함).
- 무화과. 삼 . 모양 이름 맵 역할 사용 파일 선택
JMP는 소프트웨어가 자동으로 확인하는 특정 디렉토리에 '-Name' 및 '-XY' 파일을 배치하는 것도 지원합니다.그러나 우리 애플리케이션에서는 서로 다른 SoC 제품 간에 서로 다른 매핑으로 동일한 모양 이름을 사용합니다.따라서 이름 충돌을 피하기 위해 파일 선택 방법을 사용합니다. 컴퓨터 운영 체제에 따라 자동 디렉토리 위치를 찾으려면 JMP의 도움말을 참조하십시오.
모든 준비 작업이 완료되면 Graph Builder를 열고 데이터 테이블에서 연결된 셰이프 열을 창의 왼쪽 하단 모서리에 있는 Map Shape 드롭 영역으로 끌어다 놓습니다(그림 4 참조). 그런 다음 JMP는 모양 정의 파일에서도 발견되는 데이터 테이블에서 발견되는 모든 모양 인스턴스로 디스플레이를 채웁니다.
- 무화과. 4 . Graph Builder 지도 모양 드롭 영역 위치
데이터 테이블에서 찾은 특정 모양이 모양 정의 파일에서 인식되지 않는 경우가 있을 수 있습니다. 이는 이름이 동일하지 않거나 이름 지정 규칙이 다르거나 단순히 나열되지 않았기 때문일 수 있습니다. 이러한 인식되지 않는 모양은 그래프 빌더 창 하단에 '지도 모양을 찾을 수 없음'으로 표시됩니다(그림 5 참조). 이러한 누락된 모양을 통합하려면 모양 정의 파일과 일치하도록 데이터를 수정하거나 모양 정의 파일 자체를 업데이트해야 합니다.
- 무화과. 5 . 데이터의 모양이 인식되지 않는 경우 그래프 빌더 표시
이 시점에서 데이터 열을 끌어다 놓을 수 있습니다. 색상 열 데이터 및 모델링 유형에 따라 적절한 색상 오버레이를 제공하는 drop-zone입니다.
다음 섹션에서는 다양한 사용 사례 시나리오와 성공 사례를 설명하는 몇 가지 자세한 예를 살펴보겠습니다.
V. 예시
- A. 수율 데이터
도입부와 마찬가지로 SoC 설계에서 블록 재사용의 이점은 개별 블록의 성능과 수율을 비교하는 수단을 허용합니다. 스캔(플립플롭 및 공통 논리) 및 내장형 자체 테스트(BIST, 메모리 테스트 및 복구)와 같은 테스트 절차를 사용하여 블록 수준에서 배치하는 것은 매우 일반적입니다. SoC의 경우 이러한 블록을 타일이라고 합니다. 그림 6은 수천 단위의 결과를 집계하여 각 타일에 대한 특정 테스트의 수율을 보여줍니다. 빨간색으로 표시된 타일(및 흰색으로 번호가 매겨진 타일)은 더 많은 주의를 요하는 저수익 이상치 타일입니다. 다음 하위 섹션에서는 이 뷰에서 묘사될 때 명확하지 않은 이러한 이상값을 구동하는 또 다른 힘이 있음을 보여줍니다.
- 무화과. 6 . 특이치가 있는 SoC 타일 수율 히트맵
- 비. 하이퍼 히트맵
이전 수율 예시를 계속하면 이상치 타일 세트가 분명히 있습니다. 그러나 그들에게 무엇이 잘못되었는지는 분명하지 않습니다. 그림 7은 웨이퍼의 각 다이 위치에 대한 각 SoC 타일 보기를 중첩하는 하이퍼 히트맵을 보여줍니다. 그룹 X 그리고 그룹 Y 드롭 존. 드물게 채워진 다이 위치는 타일 실패율이 낮습니다. 그림 6의 번호가 매겨진 이상값이 그림 7에 추가되어 해당 타일 수율을 낮추는 다이 위치를 나타냅니다. 타일용 1 , 2 , 그리고 삼 , 주된 이유는 특정 다이 X, Y 위치에 대해 웨이퍼 가장자리에 인접한 모서리 타일이기 때문입니다.웨이퍼 가장자리 바로 옆에 있을 때 이러한 타일은 웨이퍼의 다른 영역에서는 발생하지 않는 웨이퍼 제조 공정에서 가장자리 영향을 받습니다. 객체가 많은 하이퍼 히트맵을 보다 명확하게 보려면 색상 변수의 기준선 또는 예상 수준을 필터링하는 것이 유용할 수 있습니다.그림 7은 이러한 방식으로 필터링되었습니다.타일 4 수율 낙진은 제조 공정으로 인한 변동 효과가 알려진 웨이퍼 중앙에 주로 집중됩니다. 제조 공정은 웨이퍼 전체에 걸쳐 다양한 불균일성을 유발하며 이는 종종 중앙 또는 가장자리 영역에서 더 강합니다. 이 하이퍼 히트맵을 통해 타일 자체에 디자인 최적화가 필요한지 확인하기 위해 리소스를 사용하지 않고도 문제 영역이 어디에 있는지 빠르게 이해할 수 있었습니다.
- 무화과. 7 . 베이스라인 수율을 필터링하여 이상값 다이 위치를 강조하는 웨이퍼 레벨 하이퍼 히트맵
- C. 파라메트릭 데이터
그림 8은 파라메트릭 데이터가 웨이퍼 수준 하이퍼히트맵에서 시각화되는 방법의 예입니다. 표시된 각 타일에는 값이 장치 성능과 상관 관계를 나타내는 메트릭으로 사용되는 아날로그 측정 구조가 포함되어 있습니다. 데이터 테이블에는 수백 개의 웨이퍼가 포함되어 있으며 이 특정 뷰는 웨이퍼의 각 다이 위치에서 각 타일의 측정값에 대한 평균값을 보여줍니다. 오버레이에 의해 묘사된 동심원에 의해 제작 과정의 친숙한 잔해가 명확하게 나타납니다.
- 무화과. 8 . 아날로그 특성화 구조의 웨이퍼 수준 Hyper-heatmap
VI. 성공 사례
고용량 제품은 눈에 띄는 이상치 타일이 다른 타일보다 더 나쁜 것으로 나타났습니다(그림 9 참조).이 경우 빨간색은 산출량이 낮은 타일을 나타내고 파란색은 산출량이 높은 타일을 나타냅니다.
- 그림 9. 이상값 타일 관찰을 통한 초기 SoC 수준 수율
히트맵을 활용한 추가 분석은 이 타일이 웨이퍼 가장자리에 인접한 웨이퍼의 왼쪽 하단 가장자리에 있는 이상치 타일에 대한 체계적인 웨이퍼 가장자리 서명이라는 사실을 발견했습니다(그림 10 참조). 이 신호는 파운드리의 주의를 끌었고, 공정 개선을 구현하도록 이끌었습니다. 즉, 극한의 웨이퍼 가장자리에서 최적화된 리소그래피 조정입니다. 이러한 공정 개선으로 인해 전체 웨이퍼 수율이 크게 향상되었습니다.
- 그림 10. 왼쪽 하단 웨이퍼 에지에서 이상치 타일의 웨이퍼 수준 관찰
Hyper-heatmap 보기 전에는 이 수율 신호에 대한 초기 조사가 타일 자체, 즉 이 경우 잘못된 방향에 집중되었습니다.웨이퍼 에지 수율 상관 관계가 명확해지면 올바른 소유자가 즉시 지속적인 개선 노력을 시작할 수 있습니다.
VII. 팁 & 트릭
ㅏ.누락된 모양 표시
Graph Builder 플랫폼 내의 열 선택 상자 바로 아래에는 다음과 같은 제목의 확인란이 있습니다. 누락된 모양 표시 . 이것을 선택하면 정의 파일에는 있지만 현재 데이터 테이블에는 없는 모양의 윤곽선으로 디스플레이가 채워집니다(그림 11 참조). 이는 누락된 데이터를 찾거나 맵의 전체 그림을 얻는 데 유용합니다.
- 그림 11. 그래프 빌더 누락된 모양 표시 확인란
비.데이터 레이블 오버레이 활성화
모양 위로 마우스를 가져가거나 각 모양 위에 레이블을 표시하는 기능을 사용하면 패턴을 빠르게 식별하는 데 유용합니다. 선택한 열을 마우스 오른쪽 버튼으로 클릭하고 선택 레이블/레이블 해제 Graph Builder에서 셰이프 위로 마우스를 가져가면 처음으로 열 데이터가 표시됩니다. 도형에 레이블을 정적으로 표시하려면 관심 있는 데이터 테이블에서 행을 선택하고 레이블/레이블 해제 .
씨.필터 및 열 전환기로 자동화
볼륨 데이터를 분석할 때 미묘한 패턴을 검색하는 것은 번거로운 작업일 수 있으며 마우스 클릭의 양을 최소화하는 것이 항상 도움이 됩니다. 활용하기 필터 자동화 그리고 열 전환기 기능(Graph Builder 빨간색 화살표>스크립트)은 다양한 조건으로 방대한 양의 공간 데이터를 스캔하는 효율적인 방법입니다.
디. JMP12를 사용한 프레임 페이징
Graph Builder 플랫폼은 최근 JMP12 업데이트를 통해 몇 가지 눈에 띄는 기능 업그레이드가 있습니다. 페이지 드롭존. 이 놓기 영역에 데이터 열을 배치하면 해당 열에서 찾은 고유한 값의 수에 따라 그래프 빌더 프레임의 여러 인스턴스가 생성됩니다. 보고서는 공유할 대화형 HTML 문서로 저장할 수 있습니다.
이자형.그룹 및 랩 드롭 영역을 사용한 프레임 분할
웨이퍼 하이퍼 히트맵의 예에서 볼 수 있듯이 프레임은 그룹 X 그리고 그룹 Y 드롭 존. 웨이퍼 하이퍼히트맵은 분할을 위해 다이 X 및 Y 좌표를 사용했지만 모든 열을 사용할 수 있습니다. 자주 사용되는 다른 예로는 전압 테스트 포인트, 테스트 온도 및 주파수 테스트 포인트가 있습니다. 그만큼 포장하다 drop-zone은 보다 효율적인 공간 사용과 유사한 기능을 가지고 있지만 열 중첩은 사용할 수 없습니다. 그룹 변수를 마우스 오른쪽 버튼으로 클릭하면 사용자가 보기의 수준 수를 선택하여 관심 영역을 효과적으로 확대할 수 있습니다(그림 12 참조).
- 그림 12. 보기 옵션에서 레벨 선택 그룹 변수 영역
에프.그래프 빌더 색상 설정 수정
사용자 지정 맵 오버레이 데이터를 분석할 때 종종 색상 설정을 간단히 수정하면 이상값 패턴의 모양이 크게 강조될 수 있습니다. 저자는 단일 방향 데이터(수율, 속도 등)에 대한 순차적 색상 테마와 양면 데이터에 대한 발산 색상 테마가 있는 어두운 배경(그래프>배경색)을 사용할 것을 권장합니다. 색상 테마는 범례를 마우스 오른쪽 버튼으로 클릭하여 그라데이션 설정 내에서 액세스할 수 있습니다. 기본적으로 Graph Builder는 각 도형 주위에 회색 테두리를 추가합니다(너비 1픽셀). 이는 일부 작은 도형을 가릴 수 있습니다. 이 테두리를 제거하려면 프레임을 마우스 오른쪽 버튼으로 클릭하고 사용자 지정>도형 매핑을 선택하고 선 너비를 0으로 변경합니다.
VIII. 알려진 문제 및 주의 사항
- A. 겹치는 모양이 원하는 색상을 표시하지 않을 수 있음
겹치는 영역이 있는 사용자 정의 맵에 정의된 모양이 있을 때 발생합니다. 그림 13에서 ACP 그리고 gnb 블록은 공통 영역을 공유하지만 한 가지 색상만 사용됩니다. 겹치는 모양이 포함된 사용자 지정 지도를 만들 때 주의해야 할 사항입니다.
- 그림 13. 두 개의 겹치는 모양의 잘못된 색상 오버레이
- B. 레이블을 드래그하여 포인터를 만들면 레이블이 지정되지 않은 행이 표시됨
그림 14는 원하는 레이블(검은색 점선 테두리)을 드래그하면 레이블이 지정되지 않은 행에 관련 없는 레이블(빨간색 점선 테두리)이 어떻게 나타나는지 보여줍니다.이 문제는 JMP 12에서 해결되었습니다.
- 그림 14. 레이블(검은색)을 끌면 레이블이 지정되지 않은 행이 나타납니다(빨간색).
- C. 보기에서 수준을 변경하면 프레임 사용자 지정이 재설정됩니다.
그림 15는 기본 보기에 대한 프레임 사용자 정의를 처음 설정하는 과정을 보여줍니다. 그룹 그리고 마지막으로 원래 보기로 다시 이동하면 원래 적용된 사용자 지정이 손실됩니다.
- 그림 15. 보기 기능에서 수준을 변경하면 프레임 사용자 지정이 손실됨
- D.Map 역할 열 속성 및 요약 테이블
열에 Map Role 속성이 적용되어 있고 데이터 테이블이 요약된 경우(해당 열 포함) Graph Builder는 열 속성을 인식하지 않습니다. 맵 역할 특성에 정의된 모양 파일이 없음을 간단히 나타냅니다. 해결 방법은 맵 역할 속성을 제거하고 다시 추가하는 것입니다. 또는 파일을 저장하고 닫았다가 다시 열면 역할 매핑 속성이 예상대로 작동합니다.
- E. 지도 역할 속성을 업데이트할 수 없음
맵 역할 열 속성을 사용할 때 속성이 설정되고 모양 정의 파일이 적용된 후에는 다른 파일을 선택하도록 변경해도 새 파일의 설정으로 업데이트되지 않는 것으로 관찰되었습니다. 또한 모양 정의 열을 업데이트할 수 없습니다. 해결 방법은 맵 역할 속성을 제거하고 새 파일 및 열 설정으로 다시 추가하는 것입니다.
IX. 개선 기회
Graph Builder 플랫폼 내의 사용자 지정 맵은 탁월한 대화형 인터페이스를 통해 공간 데이터와 상관 관계가 있는 패턴을 분석하는 탁월한 성능을 발휘합니다. 이 백서에서 언급한 바와 같이 이 기능을 통해 성공적인 근본 원인 분석을 가능하게 하여 실제 재정적 영향을 미쳤습니다. 이 기능을 광범위하게 사용하면 이점이 분명하며 몇 가지 최적화를 통해 유용성을 확장하면 더 나은 결과를 얻을 수 있습니다.
다음은 저자가 경험을 바탕으로 수집한 몇 가지 개선 기회입니다.
ㅏ.보기 수준에 대한 추가 옵션
Graph Builder는 다음을 사용하여 보기를 분할하는 기능을 제공합니다. 그룹 양쪽의 드롭 존 엑스 그리고 와이 축. 오른쪽 클릭 메뉴는 보기 수준의 수를 설정하기 위한 몇 가지 옵션을 제공하지만 상당히 엄격합니다(그림 16 참조). 보기에 4개 이상의 수준(전부는 아님)이 필요한 경우가 많지만 현재 해당 옵션이 존재하지 않습니다. 이것은 그룹 열의 값 수에 따라 동적으로 변경될 수 있습니다.
- 그림 16. 보기 옵션의 수준은 1-4 또는 모두로 제한됨
비.다중 열 페이징 지원
이것은 간단한 마우스 스크롤로 여러 보기를 빠르게 스캔할 수 있는 매우 유용한 기능입니다. 이 기능은 ' 에 의해' 다른 플랫폼의 기능. 현재 해결 방법은 새 열을 만들고 둘 이상의 열에서 데이터를 연결하여 서로 다른 조합을 얻는 것이지만 여러 열 페이징이 더 깨끗한 솔루션이 될 것입니다.
X. 인정
저자는 JMP의 사용자 정의 지도 형식으로 변환하는 데 상당한 도움이 되는 특수 출력 형식을 AMD의 평면도 소프트웨어에 추가하는 데 도움을 준 Paul Shook에게 감사를 표합니다.또한 JMP에서 SoC 수율 시각화를 위한 사용자 정의 맵 사용을 평가하는 데 도움을 준 AMD의 동료 분석가들에게 감사드립니다.
AMD, AMD 화살표 로고 및 이들의 조합은 Advanced Micro Devices, Inc.의 상표입니다. 이 간행물에 사용된 기타 제품 이름은 식별 목적으로만 사용되며 해당 회사의 상표일 수 있습니다.
